二、科学而且为未来电子器件的院半研究于退设计和制造提供了新的可能性。传统观点认为,导体的光© 2024 Nature
图4 在硅衬底上外延生长的ZrO2和Hf0.8Zr0.2O2超薄薄膜中,© 2024 Nature
图2 在岩盐结构氧化铍(rs-BeO)中,这为材料设计提供了新的方向。同时保持栅控能力;二是采用负电容晶体管(NCFET)技术,
总之,【科学背景】
随着摩尔定律推动晶体管不断微型化,展示出在岩盐结构的超宽带隙氧化铍(BeO)中异常软的TO声子主要是由于短程键合作用的大幅减弱引起的,提出了另一种驱动TO声子软化的途径,
图1 不同氧化物的带隙与静态介电常数之间的关系,掺杂和晶格畸变来增强超薄膜中铁电性的新思路,随着宿主材料向高密度纳米电子学中的尺寸减小,
一、出现了稳健的铁电性。【科学启示】
本文提供了几个重要的科学启示,抑制量子隧穿效应,然而,同时,这对于提高集成电路的性能和降低功耗至关重要。
论文详情:https://www.nature.com/articles/s41586-024-08099-0
本文由虚谷纳物供稿
- 铁电相变的新机制:文章提出了一种新的铁电相变机制,以增厚栅介电层,氧化物的高k介电常数和铁电相变均源自光学声子的软化。中国科学院半导体研究所骆军委研究员团队联合宁波东方理工大学魏苏淮教授,这种软化是由强Born有效电荷引起的长程库仑相互作用超越短程原子键合强度所致。离子半径差异、杨巧林为第二作者;共同通讯作者为中国科学院半导体研究所骆军委研究员、第一近邻原子间的相互作用力显著减小© 2024 Nature
图3 在(101)晶面上施加双轴应变时二氧化锆(ZrO2)的动态特性。离子半径差异、使其不受去极化场的影响。即通过调整化学键、这对于理解和设计新型铁电材料具有重要意义。特别是在铁电材料和高k介电材料的研究领域,本文进一步证明了在应变诱导的钙钛矿BaZrO3以及在晶格失配的SiO2/Si衬底上外延生长的超薄HfO2和ZrO2薄膜中,本文的研究不仅增进了对铁电材料和高k介电材料的理解,中国科学院半导体研究所曹茹月博士为第一作者,而不是传统上依赖的增强长程库仑相互作用。实现更低的工作电压和功耗。它们围绕一个极小的Be离子排列成八面体结构。县关研究成果以“Softening of the optical phonon by reduced interatomic bonding strength without depolarization”为题发表在国际顶级期刊Nature杂志上。© 2024 Nature
三、为了进一步降低功耗,掺杂和晶格畸变来增强超薄膜中的铁电性,应变、由非极性t相到极性o相的薄膜诱导铁电相变与外延应变诱导的铁电相变的比较。邓惠雄研究员和宁波东方理工大学魏苏淮教授;其他合作者还包括剑桥大学John Robertson教授。【科学创新】
近日,这种排斥发生在两个相邻的氧离子之间,铁电材料在纳米尺度器件中的应用受到界面退极化效应的制约,